在線紅外測溫儀適用于工業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場的各個需要測溫的場合，包括鋼水測溫、銅水測溫、窯爐燒成帶測溫、單晶硅長晶測溫、多晶硅長晶測溫等。其使用方法就是將光學(xué)探頭部分裝在測溫現(xiàn)場，而信號處理/顯示器部分裝在遠(yuǎn)離測溫現(xiàn)場的場合。由于光學(xué)探頭本身就有一定的耐溫特性，所以一般不用安裝水冷套等保護(hù)措施，如果是在清潔的場合，甚至可以不必安裝吹掃器。基于上述特性，光纖紅外測溫儀使用成本低廉，安裝維護(hù)也方便。

　　在電力設(shè)備中使用紅外線測溫儀器時應(yīng)注意哪些問題？

　　電力設(shè)備的故障類型主要分為紅外測溫技術(shù)檢為兩類：

　　一、外部熱故障設(shè)備。

　　是指設(shè)備的發(fā)熱部分暴露在環(huán)境中，利用紅外線測溫儀器直接觀察其表面的熱分布狀態(tài)，并快速確定其位置。由于設(shè)備部件的接觸電阻異常增加，是導(dǎo)致外部熱故障的主要原因。

　　(1)接觸面不平或氧化的設(shè)備部件。

　　(2)連接質(zhì)量問題的接觸面。

　　使用紅外線測溫儀器檢測到的常見設(shè)備的外部故障包括：隔離刀閘接頭、穿墻套管接頭、電氣設(shè)備出口接頭等各種裸露的電氣接頭。

　　二、內(nèi)部熱故障設(shè)備。

　　由于內(nèi)部發(fā)熱故障，電力設(shè)備的發(fā)熱部分在設(shè)備內(nèi)部關(guān)閉，不能直接用熱像儀觀察。只有通過獲取設(shè)備表面的熱分布圖，分析和類比，才能確定故障的具體位置。

　　設(shè)備內(nèi)部故障的原因如下：

　　(1)由于內(nèi)部電連接或接觸不良，導(dǎo)致電流熱效應(yīng)。

　　(2)內(nèi)介質(zhì)損耗增加會導(dǎo)致發(fā)熱。

　　(3)內(nèi)部電壓分布不良或泄漏電流過大導(dǎo)致發(fā)熱。

　　(4)內(nèi)部絕緣老化、受潮、缺油或渦流(鐵損增大)導(dǎo)致發(fā)熱。